服務(wù)熱線
17701039158
產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析
澤攸TEM原位方案(樣品桿)
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng),原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境(包括力、熱、光、電等)。
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
掃碼加微信
Copyright©2025 北京儀光科技有限公司 版權(quán)所有 備案號(hào):京ICP備2021017793號(hào)-2 sitemap.xml
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸